Seminarium ZEP: „Advanced methods of power losses measurements in SiC semiconductor power devices” mgr inż. Dawid Zięba
Szanowni Państwo,
Zapraszam serdecznie na seminarium ZEP:
Advanced methods of power losses measurements in SiC semiconductor power devices.
które wygłosi
mgr inż. Dawid Zięba
Zakład Elektroniki Przemysłowej / MEDCOM
Data i miejsce wystąpienia:
12.05.2025
godz. 12:15
GE-b300
Marek Jasiński
kierownik ZEP