Seminarium ZEP: „Advanced methods of power losses measurements in SiC semiconductor power devices” mgr inż. Dawid Zięba

Szanowni Państwo,

Zapraszam serdecznie na seminarium ZEP:

Advanced methods of power losses measurements in SiC semiconductor power devices.

które wygłosi

mgr inż. Dawid Zięba
Zakład Elektroniki Przemysłowej / MEDCOM

Data i miejsce wystąpienia:

12.05.2025
godz. 12:15
GE-b300

Marek Jasiński

kierownik ZEP